這類(lèi)題通常有兩種情況，一種是所涉及的情景是從來(lái)沒(méi)看到過(guò)的，如2002年高考上海卷第13題，涉及到磁場(chǎng)能量，而且提出了磁場(chǎng)能量密度這一新概念，對(duì)這類(lèi)題審題時(shí)需解決兩個(gè)問(wèn)題：一是要看懂題中所說(shuō)的物理過(guò)程以及所涉及的新概念;二是要對(duì)實(shí)際問(wèn)題理想化，建立理想模型。

　　該題所述物理過(guò)程是：拉力F做的功轉(zhuǎn)化為磁鐵與鐵片間隙中的磁場(chǎng)能，所涉及的新概念是：能量密度E/V=B2 /2m.理想化處理的問(wèn)題是：(1)拉開(kāi)的距離很小，拉力F做的功可以看做恒力做功，因而可以用功的定義式來(lái)求;(2)磁鐵與鐵片距離很小，磁鐵與鐵片間隙中的磁場(chǎng)可以看做勻強(qiáng)磁場(chǎng)，那么磁場(chǎng)的總能量就等于能量密度乘以磁場(chǎng)區(qū)的體積。這樣就很快能列出方程了。

　　另一種情況所涉及的情景是熟悉的，但所要研究的問(wèn)題卻是沒(méi)學(xué)過(guò)的，如2003年上海高考卷第8題，涉及的情景 ——光的薄膜干涉是學(xué)過(guò)的。對(duì)這類(lèi)題審題時(shí)容易看懂，但要注意抓住題中所給的與分析問(wèn)題有關(guān)的新信息，本題所給信息是：(1)任意一條明條紋或暗條紋所在位置下面的薄膜厚度相等;(2)任意相鄰明條紋或暗條紋所對(duì)應(yīng)的薄膜厚度差恒定，第一條講的是同一條紋的規(guī)律，與分析本題無(wú)關(guān)，分析本題的關(guān)鍵是第二條，在原圖中任取兩個(gè)相鄰明條紋，畫(huà)出它們對(duì)應(yīng)的薄膜厚度差，拿掉一張紙就是薄膜的傾角變小了，這時(shí)可以用作圖法找出對(duì)應(yīng)這一薄膜厚度差的兩個(gè)相鄰明條紋的位置，很容易得出條紋將變疏。